Si与SiO2晶体结构的X射线衍射办法测定试验一：Si与SiO2晶体结构的X射线衍射办法测定 一、 试验意图 1） 加深了解并把握金刚石结构的XRD消光规则 2） 根本把握用XRD的PDF（ICDD）卡片及索引对多晶物质进行相剖析 3） 了解XRD仪的根本结构与试验过程 4） 学会查验单晶硅、多晶硅以及二氧化硅的XRD办法 二、 试验内容 1） 有试验教师介绍XRD仪器的根本结构与根本试验过程 2） 进行XRD试验取得Si及SiO2的XRD谱图 3） 先查XRD的索引得到卡片号、再由卡片号查找物相晶体结构参数 4） 由衍射常识取得金刚石结构的XRD消光规...

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